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同惠阻抗分析儀

同惠阻抗分析儀

產(chǎn)品型號(hào): TH2828

所屬分類:同惠元件參數(shù)測(cè)試儀器

產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-09

簡(jiǎn)要描述:同惠阻抗分析儀TH2828,基本精度:0.05%;20Hz-1MHz連續(xù)頻率;LCD顯示;四端對(duì)測(cè)試端口,TH2828已經(jīng)停產(chǎn),用TH2838替代.

詳細(xì)說明:

同惠阻抗分析儀TH2828,基本精度:0.05%;20Hz-1MHz連續(xù)頻率;LCD顯示;四端對(duì)測(cè)試端口,TH2828已經(jīng)停產(chǎn),用TH2838替代.

 

TH2828/TH2828A/TH2828S是采用自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,其0.05%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的一切測(cè)量要求,特別有利于測(cè)量低D電容器和高Q電感器的測(cè)量。其支持20V交流測(cè)試信號(hào)和40V直流偏置的高功率測(cè)試條件及列表掃描能力將有利于用戶擴(kuò)展元件評(píng)價(jià)的能力。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。TH2828/TH2828A/TH2828S是電子元器件設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試的強(qiáng)有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計(jì)和開發(fā)以及材料(電子材料和非電子材料)的研究和開發(fā)提供了強(qiáng)有力的工具。TH2828/TH2828A/TH2828S以其性能可以實(shí)現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和軍用標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測(cè)試。
 

同惠阻抗分析儀TH2828

性能特點(diǎn)
阻抗測(cè)量范圍寬的自動(dòng)平衡電橋技術(shù)
四端對(duì)端口配置有效消除測(cè)試線電磁
基本準(zhǔn)確度0.05%
高達(dá)1MHz的測(cè)量頻率范圍
交流測(cè)試信號(hào)可編程至20V(選件)
高達(dá)30次/秒的測(cè)量速度
六位讀數(shù)分辨率
可測(cè)量22種阻抗參數(shù)組合
30 Ω, 100 Ω可選信號(hào)源輸出阻抗
10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能
曲線掃描分析功能(僅TH2828S)
內(nèi)部可編程直流偏置±40V/100mA(選件)
外置偏流源至40A
電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)功能
V、I測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
20組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存/讀取
內(nèi)建比較器,10檔分選及計(jì)數(shù)功能
RS232C,GPIB,HANDLER接口
2m/4m測(cè)試電纜擴(kuò)展(選件)
USB接口供數(shù)據(jù)外存(TH2828A無)
320×240點(diǎn)陣大型圖形LCD顯示
中英文可選操作界面

 

同惠阻抗分析儀TH2828

  • 應(yīng)用
  • 無源元件

      電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

    半導(dǎo)體元件

      LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

    其它元件

      印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估

    介質(zhì)材料

      塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

    磁性材料

      鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

    半導(dǎo)體材料

      半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料:

    液晶單元

      介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

LCR自動(dòng)平衡測(cè)試?yán)碚撌敲绹?/span>HP公司一九八幾年提出來的,這是全*好測(cè)試方法。自動(dòng)平衡保證全頻段測(cè)試的精度:

普通電橋是使用運(yùn)放采樣信號(hào),運(yùn)放缺點(diǎn)輸入端有偏置電流,流過被測(cè)件跟流過采樣電阻的電流不一致,電流的誤差是取消不了的,清零是沒用的。

自動(dòng)平衡不采用運(yùn)放, 而采用FPGA加高速ADC采樣,另外做了一個(gè)信號(hào)源同時(shí)加在被測(cè)件上,來抵消普通LCR這種誤差,用這種方法能保證更高的測(cè)試精度跟測(cè)試范圍。

目前市面上只有同惠的LCR采用自動(dòng)平衡測(cè)試原理。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 



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